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書誌情報:植物試料のための超薄切片法
ショクブツ シリョウ ノ タメノ チョウハク セッペンホウ
遠山益著
東京 : 学会出版センター , 1983.8
114p ; 21cm
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所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号登録番号資料ID状態貸出区分備考 
1 0亀岡分室:閲覧室
  • 460.75
  • I23
  • 5
102872330362532A 利用可
図書（帯出可） 

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書誌詳細
刊年1983
形態114p ; 21cm
シリーズ名医学・生物学のための電子顕微鏡実験法 ; 5
注記参考書:p110
出版国日本
標題言語日本語
本文言語日本語
著者情報遠山, 益(1930-) (トオヤマ, ススム)
山田, 英智 (1922-) (ヤマダ, エイチ)
分類NDC8:470.72
NDLC:RA64
ISBN9784762262869
件名NDLSH:電子顕微鏡
NDLSH:ミクロテクニック
NCIDBN00760418
番号NBN : JP84001546

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