Advanced VLSI design and testability issues
書誌情報:Advanced VLSI design and testability issues
edited by Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, and Sushanta Kumar Mohapatra
Boca Raton : CRC Press , 2020, c2021
xvii, 359 p. : ill. ; 25 cm
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所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号登録番号資料ID状態貸出区分備考 
1: hbk0太秦南館:５階閲覧室
  • 549.7
  • A16
  •  
1039875108007797 利用可
図書（帯出可） 

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書誌詳細
刊年2020
形態xvii, 359 p. : ill. ; 25 cm
注記Includes bibliographical references and index
出版国アメリカ合衆国
標題言語英語
本文言語英語
著者情報Lata Tripathi, Suman
Saxena, Sobhit
Mohapatra, Sushanta Kumar
分類DC23:621.395
ISBN9780367492823(: hbk)
件名LCSH:Integratedcircuits -- Verylargescaleintegration -- Designandconstruction
LCSH:Integratedcircuits -- Verylargescaleintegration -- Testing
NCIDBC12770772
番号NBN : 019885782,GBC0B5970

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