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> Scanning nonlinear dielectric microscopy : investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices
書誌情報:Scanning nonlinear dielectric microscopy : investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices
Yasuo Cho
Duxford、U.K. : Woodhead Publishing, An imprint of Elsevier , c2020
x, 246 p. : ill. ; 23 cm
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所蔵一覧
巻号
予約人数
所在
請求記号
登録番号
資料ID
状態
貸出区分
備考
1
: pbk
0
太秦南館:展示コーナー
549.97
C52s
10404100
09004295
利用可
図書(帯出可)
選択行を:
書誌詳細
刊年
2020
形態
x, 246 p. : ill. ; 23 cm
シリーズ名
Woodhead Publishing series in electronic and optical materials
注記
Includes bibliographical references and index
出版国
イギリス
標題言語
英語
本文言語
英語
著者情報
長, 康雄
(チョウ, ヤスオ)
分類
DC23:621.381
LCC:TK7872.F44
DC23:537.2448
ISBN
9780128172469(: pbk)
件名
LCSH:Ferroelectricdevices
LCSH:Dielectricdevices
LCSH:Semiconductors
LCSH:Microscopy
NCID
BC02444783
番号
NBN : 019805930,GBC064731LCCN : 2021444951
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