| 刊年 | 2020 |
| 形態 | x, 389p : 挿図 ; 21cm |
| 別書名 | Transmission Electron Microscope for Materials Research
透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための
物質材料研究のための透過電子顕微鏡
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| 注記 | 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
編集: 講談社サイエンティフィク
引用文献、参考書・参考文献: 章末 |
| 出版国 | 日本 |
| 標題言語 | 日本語 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 著者情報 | 木本, 浩司 (キモト, コウジ)
三石, 和貴 (ミツイシ, カズタカ)
三留, 正則 (ミトメ, マサノリ)
原, 徹 (ハラ, トオル)
長井, 拓郎 (ナガイ, タクロウ)
講談社サイエンティフィク (コウダンシャ サイエンティフィク)
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| 分類 | NDC8:549.97
NDC9:549.97
NDC10:549.97
NDLC:M213
NDC10:501.4 |
| ISBN | 9784065203866
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| 件名 | BSH:電子顕微鏡
NDLSH:材料科学
NDLSH:電子顕微鏡
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| NCID | BC01556588 |
| 番号 | NBN : JP23426900OTHN : TRC:20032017,(JP-TOTOH)34093776 |