書誌情報:論理とテスト
ロンリ ト テスト
樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
東京 : 岩波書店 , 1985.5
x, 313p ; 22cm
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所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号登録番号資料ID状態貸出区分備考 
140亀岡本館:書庫
  • 549
  • I95
  • 4
200219830006103E 利用可
図書(帯出可) 

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書誌詳細
刊年1985
形態x, 313p ; 22cm
シリーズ名岩波講座マイクロエレクトロニクス ; 4[VLSIの設計 ; 2]
注記参考書: p303-305
出版国日本
標題言語日本語
本文言語日本語
著者情報樹下, 行三(1936-) (キノシタ, コウゾウ)
浅田, 邦博(1952-) (アサダ, クニヒロ)
唐津, 修(1947-) (カラツ, オサム)
分類NDC8:549
NDC8:549.08
NDC7:549.92
NDLC:ND351
NDLC:ND386
ISBN9784000101844(4)
件名NDLSH:集積回路
NCIDBN00059257
番号NBN : JP85047180

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